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技術(shù)常識(shí)
無損探傷檢測(cè)須知
來源：時(shí)代集團(tuán) 發(fā)布日期：2013-01-30 15:13:52
1、什么是無損探傷/無損檢測(cè)？
答：(1)無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。
(2)無損檢測(cè)：Nondestructive Testing（縮寫 NDT）
2、常用的探傷方法有哪些？
答：無損檢測(cè)方法很多據(jù)美國(guó)國(guó)家宇航局調(diào)研分析，認(rèn)為可分為六大類約70余種。但在實(shí)際應(yīng)用中比較常見的有以下幾種：
常規(guī)無損檢測(cè)方法有：
－超聲檢測(cè) Ultrasonic Testing（縮寫 UT）；
－射線檢測(cè) Radiographic Testing（縮寫 RT）；
－磁粉檢測(cè) Magnetic particle Testing（縮寫 MT）；
－滲透檢驗(yàn) Penetrant Testing （縮寫 PT）；
－渦流檢測(cè)Eddy current Testing（縮寫 ET）；
答：無損檢測(cè)方法很多據(jù)美國(guó)國(guó)家宇航局調(diào)研分析，認(rèn)為可分為六大類約70余種。但在實(shí)際應(yīng)用中比較常見的有以下幾種：
常規(guī)無損檢測(cè)方法有：
－超聲檢測(cè) Ultrasonic Testing（縮寫 UT）；
－射線檢測(cè) Radiographic Testing（縮寫 RT）；
－磁粉檢測(cè) Magnetic particle Testing（縮寫 MT）；
－滲透檢驗(yàn) Penetrant Testing （縮寫 PT）；
－渦流檢測(cè)Eddy current Testing（縮寫 ET）；
非常規(guī)無損檢測(cè)技術(shù)有：
－聲發(fā)射Acoustic Emission(縮寫 AE)；
－泄漏檢測(cè)Leak Testing（縮寫 UT）；
－光全息照相Optical Holography；
－紅外熱成象Infrared Thermography；
－微波檢測(cè) Microwave Testing
－聲發(fā)射Acoustic Emission(縮寫 AE)；
－泄漏檢測(cè)Leak Testing（縮寫 UT）；
－光全息照相Optical Holography；
－紅外熱成象Infrared Thermography；
－微波檢測(cè) Microwave Testing
3、超聲波探傷的基本原理是什么？
答： 超聲波探傷儀的種類多樣，但在實(shí)際的探傷過程，脈沖反射式超聲波探傷儀應(yīng)用的最為廣泛。一般在均勻的材料中，缺陷的存在將造成材料的不連續(xù)，這種不連續(xù)往往又造成聲阻抗的不一致，由反射定理我們知道，超聲波在兩種不同聲阻抗的介質(zhì)的交界面上將會(huì)發(fā)生反射，反射回來的能量的大小與交界面兩邊介質(zhì)聲阻抗的差異和交界面的取向、大小有關(guān)。脈沖反射式超聲波探傷儀就是根據(jù)這個(gè)原理設(shè)計(jì)的。
目前便攜式的脈沖反射式超聲波探傷儀大部分是A掃描方式的，所謂A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測(cè)材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離，縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。譬如，在一個(gè)鋼工件中存在一個(gè)缺陷，由于這個(gè)缺陷的存在，造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個(gè)不同介質(zhì)之間的交界面，交界面之間的聲阻抗不同，當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個(gè)界面之后，就會(huì)發(fā)生反射。反射回來的能量又被探頭接受到，在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會(huì)顯示出來一個(gè)反射波的波形，橫坐標(biāo)的這個(gè)位置就是缺陷在被檢測(cè)材料中的深度。這個(gè)反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同，反映了缺陷的性質(zhì)。
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